外延隔离(epitaxial isolation)是实现PN结隔离的一种常用工艺,它之所以称为外延隔离,是因为这一隔离方法采用了外延结构。
工艺过程外延隔离主要工艺过程,如下图所示:
先在一块P型硅片上外延生长一层N型外延层,然后经过氧化、光刻和选择扩散等工艺步骤,使原先的外延层形成一个个被隔离的小岛,最后再在这些小岛上制作电路所需的元器件。
衬底材料的选择为了实现pn结隔离,即n型区被P型区包围,衬底材料必须选用P型硅单晶,以便和n型外延层之间形成pn结。这一pn结击穿电压的大小主要取决于衬底电阻率的高低。从提高击穿电压及减小隔离结寄生电容考虑,衬底的电阻率高一些好。但选得过高,在长时间的隔离扩散中,会增加外延层向衬底的推移,使隔离时间加长。同时,制造高阻P型硅单晶也很困难,因此电阻率不能取得太高。
衬底还起着支撑的作用,所以对其厚度有一定的要求。硅片太薄,在制造过程中容易破碎;硅片太厚,既浪费材料,划片也有困难。一般在抛光后,取厚度为300~350微米较适宜。外延层是在衬底上生长的,它的质量好坏与衬底质量有关,因此要求衬底的位错密度较低,有害杂质(如铁、铜、镍等)少。1
特点外延隔离的工艺简单,在实现PN结隔离的各种方法中,用这种方法所获得的隔离性能也比较好,在目前的电子工业生产中广泛采用。1
本词条内容贡献者为:
王宁 - 副教授 - 西南大学