新方案可预测太空集成微电路故障

科技日报 2017-12-07

  

  俄国立核能研究大学“莫斯科理工学院”微电子和纳米电子部门的工作人员提出了一种新的技术方案,可以预测太空集成微电路的故障。

  现代气象卫星、通信卫星和地球观测卫星在轨道至少应运行10年—15年,失常原因通常是机载电子设备发生故障。现在,集成电路元件尺寸缩小到纳米级别,这导致多种故障发生,比如,一个宇宙微粒可以同时在几个逻辑元件或存储单元引起错误,从而造成故障或不可逆的损坏。

  为解决这一问题,研究团队发明了一种新方法,可以处理地面实验的结果,并计算出故障发生的频率,在技术和程序方面能对最新设计的现代纳米集成电路进行预测,从而有效避免其在太空中的多种故障。

  更多精彩!欢迎关注“科普中国-科技前沿大师谈”官方微信(kjqydst)。

  作者: 科技日报

责任编辑:李阳阳

科普中国APP 科普中国微信 科普中国微博
科技日报
是中国科协为深入推进科普信息化建设而塑造的全新品牌,旨在以科普内容建设为重点,充分依托现有的传播渠道和平台,使科普信息化建设与传统科普深度融合,以公众关注度作为项目精准评估的标准,提升国家科普公共服务水平。

猜你喜欢